Метод основан на измерении вторичного рентгеновского излучения, возникающего при облучении образца рентгеновскими лучами. Позволяет определить элементный состав вещества с высокой точностью.

Оборудование:ЭНЕРГОДИСПЕРСИОННЫЙ РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНЫЙ СПЕКТРОМЕТР «SHIMADZU EDX-8000», 2015 г.

Метод позволяет изучать морфологию и структуру поверхности образца с высоким разрешением за счет сканирования пучком электронов. Дает информацию о топографии и составе поверхности.

Оборудование:СКАНИРУЮЩИЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП PHENOM XL G2, 2023 г.

Метод заключается в измерении изменения массы образца при нагревании в контролируемых условиях. Используется для изучения термической стабильности, состава и процессов разложения.

Оборудование:ТЕРМОГРАВИМЕТРИЧЕСКИЙ АНАЛИЗАТОР«METTLER TOLEDO TGA/DSC 3+», 2016 г.

Метод сочетает разделение компонентов смеси с помощью хроматографии и их идентификацию по массе и заряду с помощью масс-спектрометра. Применяется для анализа сложных смесей и определения молекулярного состава.

Оборудование:ХРОМАТОМАСС-СПЕКТРОМЕТР «SHIMADZU GCMS-TQ8040», 2015 г.